摘要: <正> 【公开日】2003.07.23【分类号】G01N23/203【公开号】1431488【申请号】03100190.4【申请日】2003.01.08【申请人】特罗克斯乐电子实验室有限公司【文摘】本发明提供一种核子测量仪和测试方法,用于测量位于材料表面之下较薄区层内的材料密度。该测量仪包括测量仪外壳和大致平坦的底板。在测量仪外壳内,安装具有特性原始能量、放射